【问题标题】:WCETK: How to interpret test resultsWCETK:如何解释测试结果
【发布时间】:2013-05-22 09:25:24
【问题描述】:
使用 CETK 进行图形性能测试(直接绘制性能、gdi 性能)。
有人可以解释如何解释测试结果吗?
详细来说,Rgn Count、SampleCount、Min、Max、Std Deviation 等是什么意思?
有没有关于这些的文档?
提前致谢。
问候,蒂姆
这里是一些示例结果:
Rgn Count=0
SampleCount=10
Min=0.000000
Max=1000.00000
Mean=700.000000
Std Deviation=577.350269
CV%=82.478610
【问题讨论】:
标签:
windows-ce
windows-embedded-compact
【解决方案1】:
希望你熟悉Filters and Pins。
样本数:
当一个 pin 将媒体数据传递给另一个 pin 时,它不会将直接指针传递给内存缓冲区。相反,它提供了一个指向管理内存的 COM 对象的指针。这个对象,称为媒体样本。分配器创建一个有限的样本池。分配器使用引用计数来跟踪样本。 GetBuffer 方法返回一个引用计数为 1 的样本。如果引用计数变为零,则该样本将返回到分配器的池中,它可以在下一次 GetBuffer 调用中使用。这有点类似于计数信号量。当过滤器使用缓冲区时,它会保存样本的引用计数。分配器使用引用计数来确定何时可以重用缓冲区。这可以防止过滤器覆盖另一个过滤器仍在使用的缓冲区。在每个过滤器都释放样本之前,样本不会返回到分配器的可用样本池中。
标准偏差:
基准引擎对特定测试用例进行采样的次数取决于初始样本的标准差。
我不确定剩余的条款。也许,this link 可以提供一些启示。