在不禁用硬件 PCF 的情况下从阴影贴图采样深度

Question

我有一个启用了硬件百分比更接近过滤的阴影贴图。但我还需要获取存储在阴影贴图中的深度值，以便将其用于在像素着色器中实现其他技术。问题是所有采样函数（tex2D、tex2Dproj）都返回深度比较的最终结果。它运作良好，但我无法获得深度值本身。

是否可以为阴影映射保留硬件 PCF 并对深度值本身进行采样？

但有一个限制，我无法处理应用程序如何创建阴影贴图，我只能编辑着色器。

Answer 1

如果你能找到一个未使用的SamplerState/sampler2D绑定槽，你应该可以在那里声明一个并将它与通用Sample/tex2D操作一起使用。由于应用程序未绑定采样器状态槽，因此驱动程序应使用默认的点采样设置。如果深度缓冲区支持这种类型的访问，它应该返回 pre-PCF 值。